手持式 XRF550A X熒光式合金成分鍍層測厚儀光譜便攜式X熒光式合金成分分析儀鍍層測厚儀
1.一鍵式防呆操作，去除復雜的操作選項，有效防止人為誤操作；
2.自動校準儀器，無需手動操作；
3.移動windows 的專用分析軟件；
4.更便捷的人機交互體驗；
5.1秒即顯示結果；
6.實時查看光譜圖；（手機、儀器均可）
通過手機4G、共享熱點、WiFi與手機APP進行數據傳輸；

尺寸

300mm x 90mm x 220mm；(長寬高)

激發源

大功率高性能X射線管；

靶材：5種可選擇 金（Au）、銀（Ag）、鎢（W）、鉭（Ta），鈀（Pb）；

電壓：50kv；（可變電壓）

濾波器

多種濾波器可選擇，根據不同的被檢測物自動調節；

探測器

大面積高靈敏度 SDD探測器；

探測器制冷溫度

Peltier效應半導體制冷,制冷溫度-35℃；

標準片

外置316標準片/窗口保護蓋；

處理器

SAMSUNG 800MHz高性能處理器；

操作系統

Microsoft Windows CE系統；

數據處理

8G大容量數據存儲卡：≥40000組數據及光譜圖；

數據顯示

精確到百分比（％）顯示，光譜或峰強度（計數率）或用戶定的單位；

數據傳輸

手機4G、共享熱點、WiFi與手機APP進行數據傳輸；

顯示屏

彩色，高分辨率3.5寸TFT工業級觸摸屏，任何光線條件下清晰可見；大圖標圖形界面；

外形設計

一體化機身設計，堅固、防水防塵及防凍，有效防振，適應潮濕或低溫等野外環境使用；

安全操作

一觸式“扳機"，軟件具有自鎖和防空測等保護功能；

分析元素

Mg、Al、Si、P、S、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Pb、Se、Zr、Co、V、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Ti、W、Hf、Ta、Re、Bi、Zr、Se、Nb、Pd、Ru、Ir、Pt、Au、Rh等元素；

測試環境條件

溫度-20～+40℃，濕度＜80%RH。